TA.XTC質構儀測試餅干的硬度和脆裂性

首先將兩個支撐點調整到合適的位置，以便支撐樣品的長度，例如30mm。為了對比的目的，該位置應該記錄下來。然后將其安裝到承重平臺上。將承重平臺安裝到主機上并調整，直到上刀具對準中心位置，旋緊承重平臺。樣品從包裝袋中取出，選擇所需測試指標（zui大正力和正面積），準備進行實驗。

TA.XTC質構儀配有三點彎曲探頭(HDP/3PB)，用TA.XTC質構儀測試餅干的硬度和脆裂性的原理是一旦TA.XTC質構儀探頭的感應力達到，曲線開始表達出樣品被探頭下壓過程的效果。曲線zui大壓力數值可以表達樣品的破裂強度。其他可表明的數字還有：破裂距離和斜率。破裂距離表明樣品的脆性，顯示樣品能抗多長距離后被破壞。斜率表明樣品的硬度，斜率越高，硬度越大。

之后是分析曲線zui大正峰值與正面積：

1種樣品，進行20次重復的分析結果(+/-SD.)（不合適數據需剔除），其硬度的zui大正峰值是458.3 ± 52.6，其脆性的正面積是0.38 ± 0.05。

在用TA.XTC質構儀測試餅干的硬度和脆裂性時應該注意的是：為了實驗數據可以對比，必須確保樣品的尺寸和支撐點的距離。樣品如果比較寬，要求的破裂力也比較大。

另外，儲存、包裝和處理樣品的條件的變化，都會影響實驗結果。這些條件應該是確定的保持連續的。